探测单元(Probe Unit)
Probe Unit是一种通过连接到Prober并在FPD检查期间接触面板来传输电气信号的治具。使用的类型取决于测试的目的,面板的大小,分辨率等。
Probe Unit由一个与FPD接触的Probe Block和一个支撑它的探头底座组成,并为探头提供机械接口(见下文)。 Probe Block是精细电气触点(探针)的集合体,其接触FPD的驱动器IC连接Pad并传输电气信号以驱动面板并检查电气特性。
MJC提供三种代表型的Probe。
所有这些都是自定义规格,具体取决于设计,例如面板的尺寸和分辨率。
Blade类型 | 这是一种Blade状刀片在狭缝中排列的结构。刀片可以由一个Pin为单位更换,具有高可维护性,并且具有优异的耐用性。 |
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薄膜型 | 这是使用光刻技术的薄膜型探针。可对应高精度和高自由度的探针放置,并且它可用于具有窄间距和特殊Pad排列的(COG)面板。 |
针型 | 悬臂探针通过模具i固定。它在Array检测过程中用作TEG检测和低温多晶硅TFT的Probe。 |
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