BIST/DFT测试仪是一种能够有效检查配备有称为BIST(Built-In Self Test的自我诊断电路的半导体LSI芯片的测试仪。

什么是BIST？

BIST是易于测试设计的Design For Testability技术之一。
作为测试仪的一部分把(测试pattern的发生回路)和(测试结果与期待值比较的回路)组合到LSI芯片中,测试本身由芯片内的回路来实现.BIST回路分为,检测memory(存储器BIST),检测理论回路的(逻辑BIST)。

BIST测试的优点

导入BIST检查的最大好处是降低成本。
测试的pattern基本都可以不需要LSI测试仪提供。每个芯片可以用最少的测试pin来进行检测,所以能增加一次检测的芯片数量,因此不需要高性能的测试仪,对测试仪和探针卡的投资也会少,另外高速测试信号由LSI内部生成,所以可以检测实际动作的速度。

MJC BIST/DFT测试仪

MJC提供与BIST/DFT兼容的测试仪。
它可以由适用于存储器BIST和逻辑BIST等规范的硬件组成，并且可对应“导通测试”，“AC参数测试”，“DC参数测试”和“功能测试”。我们的优化设计满足客户需求，使我们能够实现多针，紧凑和低成本。