探测单元(Probe Unit)
探针单元是一种安装在探针台上，用于FPD的检查，并与测试面板接触，
以传输测试仪的电气信号的部品。
我们提供各种探针单元，满足客户面板的尺寸，分辨率和维护要求。
稳定的接触性能和可维护性有助于实现高精准度和可靠的测试，降低测试成本并提高生产率。
薄膜式 Probe
DE5
Probe形状是从各种Type都可选的Film Type Probe.
特征
- 根据不同的CONTACT对象、可以选择Bump的有无・以及Bump的尺寸
- Probe前端针头易见、方便对位
- Probe的 FPC*1以及COF*2可独立更换
- COF可用于直接Contact
- *1 FPC：Flexible Printed Circuits
- *2 COF：Chip On Film
E3
我们专有的接触方法使其成为一种非常耐用的薄膜型探针，可以防止异物。
特征
- 易于查看探针前端，易于对位
- 兼容COG（Chip On Glass）面板
Blade式 Probe
SFB(Super Fine Blade)
UFB(Ultra Fine Blade)
用于窄间距的Probe block。
特征
- 耐灰尘和异物，可以稳定接触
- 维护成本降低，每个Pin可以进行维修和更换
ZFB(Zeta Fine Blade)
该探针模块支持多Pin 窄间距的对应
特征
- 体积小，维护性好
- Probe位置精度高，能提高接触精度
LiPS型 Probe
LiPS / LiPS-Mono
这是一种用于极窄间距的薄膜型接触式Probe。
特征
- 低干扰和低刮擦特性优化了传感器产品的检测
- 通过提高探头位置精度实现高接触再现性
- 易于更换的Block和高可维护性
产品信息