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μTAT 5300
详细信息

μTAT 5300 (MJC Website)

Per-pin, 高速logic tester

 

特长

per-pin・architecture具有巨大的测试自由度 

测试条件可以设定为每个pin,这有助于测试周期的减少

具有STIL(Standard Test Interface Language)的direct interface

 

  • 能缩短test program的开发周期
  • memory test追加可能

 

测定周波数 100MHz
最大搭载可能pin数 2,048pin

 



专用Tester/Test system开发

通过充分的功能和性能,实现高性价比高的测试系统

接受测试环境和预算控制的专用的Tester /Test system测试系统的开发。

基本的Tester・platform上,组合了定制的各种电路板,开发了专用的Test System。

针对各种设备的品种对应,符合需求的软件追加等,建立了Test・solution 

 



可提供的解决方案

内存测试,模拟测试

应用软件 

设备测量程序

Pin electronics基板 

 

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